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相似文献
 共查询到19条相似文献,搜索用时 140 毫秒
1.
椭圆偏光法测量薄膜折射率和厚度的研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文介绍用椭圆偏光法测量薄膜折射率和薄膜厚度的方法,包括测量单层薄膜和多层薄膜的情况  相似文献   

2.
为了实时监测光学薄膜的厚度,设计和制作了一款照明和采集干涉图谱为一体的石英光纤束探头,基于光学多道分析器、白色LED光源和计算机等设备组成,实现高精度监测薄膜厚度的测量系统.以薄膜等厚干涉原理为依据,分析了干涉相消波长测量薄膜厚度的原理与可行性.用汞灯标准谱线对光学多道分析器进行定标,通过自制的石英光纤束探头照明和采集干涉图谱,经光学多道分析器与计算机处理获得薄膜反射干涉相消光波长,计算得到光学薄膜厚度.测量系统通过对手机屏幕贴膜和不干胶薄膜样品的涂层厚度测试,可以监测纳米量级的薄膜厚度.  相似文献   

3.
利用迈克尔逊干涉原理测量薄膜厚度的方法,以测量PE保鲜膜和透明塑料膜为例,采用白光干涉产生的彩色条纹来精确测量薄膜的厚度,通过采集干涉产生的实验数据,计算出薄膜的厚度,这是一种实用有效的方法.此方法的测量范围为1μm~1cm,测量精度为0.1μmn.  相似文献   

4.
将样品分别放在Lloyd干涉装置的两个不同位置进行薄膜厚度和折射率的测量是一种简单易行的方法。这种方法与其它方法的区别在于只需通过分析干涉条纹就能确定薄膜的厚度和折射率,这就避免了测量能量的误差,消除光源不稳定和外界对光强的影响。通过对两种不同厚度聚合物薄膜样品的测量,证实了这种方法是有效的,厚度测量误差为2%,折射率的误差为±0.002。  相似文献   

5.
利用磁控溅射法在玻璃基片制备TbCo非晶垂直磁化膜,采用样品振动磁强计和磁转矩测量仪测量薄膜的磁性能和磁转矩曲线.结果表明:Cr底层、TbCo磁性层组分、溅射气压、基片偏压、退火温度和TbCo磁性层厚度对薄膜的磁各向异性能都有很大影响..  相似文献   

6.
用射频溅射法制备了FeZrBNb合金薄膜,研究薄膜厚度对巨磁阻抗效应的影响。结果表明,适当增大薄膜的厚度可以降低薄膜样品的临界频率,提高阻抗比。频率为13MHz时,厚度为10.8μm的薄膜样品的最大纵向阻抗比达到了5.9%,高于3.5μm的薄膜样品(最大纵向阻抗比为1.9%);而临界频率为400kHz,远低于薄膜厚度为3.5μm的样品(临界频率为1.3MHz)。  相似文献   

7.
双光束双波长激光干涉(DDI)法采用自行设计的可测双波长氦氖激光器作光源,可在同一光路中通过二次测量获得薄膜样品两个波长(0.633μm,3.39μm)下的光学常数,即折射率、消光系数和厚度,文中论述了调量原理、测量装置和测量结果.  相似文献   

8.
分光计的调整对椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率的影响   总被引:3,自引:0,他引:3  
该文用了两个不同的薄膜样品,在两台不同的分光计上,用不同的入射角对薄膜的厚度和折射率进行了测量,并通过比较实验结果,说明了在用椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率的实验中,分光计的调整对实验结果的影响是可以忽略的。  相似文献   

9.
随着科学技术的发展,人们对于光的认识也进入到了一个更加高深的领域.光的偏振现象就是一例.光的偏振特性在我们的生活中为我们带来了很多的便利.同时,它在光学计算、光弹技术、薄膜技术等领域也发挥了巨大的作用.利用光的偏振性,可以对薄膜介质的厚度、透明介质的折射率、溶液的浓度等物质特性进行测量.  相似文献   

10.
采用磁控溅射法,以普通载玻片为基底,制备了不同厚度的金属钛薄膜,在添加光栅掩模版后,制备了钛薄膜光栅。采用控制变量法,重点研究了不同溅射时间(10 min、15 min、20 min、30 min、40 min、50 min)对金属钛薄膜厚度、透过率、电阻率的影响,并测量了所制备的钛薄膜光栅的光栅常数。结果表明,增加溅射时间,在载玻片表面制备的金属钛薄膜的厚度也呈现出增加的趋势。但金属钛薄膜的透过率和电阻率却呈现现相反的趋势,即随着溅射时间的增加而减小;采用分光光度计测量薄膜光栅的光栅常数为0.168 mm.  相似文献   

11.
运用fluent软件对不同气膜厚度的螺旋槽干气密封内部微间隙三维流场进行数值模拟,得到它们流场的压力分布。通过不同厚度的气膜所产生的动压来获得它们气膜推力,再利用最小二乘法则拟合得到了气膜推力关于气膜厚度的解析式,最后求得气膜刚度,以最大气膜刚度为目标,对螺旋槽的槽深和螺旋角进行了优化。结果表明:气膜刚度是关于气膜厚度的负指数函数;在本例中,当槽深为7.5μm、螺旋角为75°时气膜刚度最大,该优化程序为干气密封的优化设计提供理论基础。  相似文献   

12.
油膜很薄的情况下,边界效应对弹流解的影响很大。论文主要研究了钢-钢工况下,边界效应对油膜压力、厚度和温度的影响。  相似文献   

13.
研究静液挤压过程流体动力润滑状态形成的条件,推导静液挤压过程工件与模具表面间润滑油膜厚度的计算公式.通过Reynolds 方程和塑性加工润滑理论推导了形成流体动力润滑的临界速度计算公式和润滑油膜厚度的计算公式,并对上述公式进行了实验验证.由临界速度计算公式所计算出的理论数值和实验所测数值基本吻合,该临界速度计算公式可作为静液挤压过程中是否形成流体动力润滑判据;润滑油膜厚度的变化往往对工模具表面间的摩擦系数、挤压过程的稳定性有很大程度的影响,可以根据本文提出的润滑油膜厚度的计算公式结合实际工况条件通过合理调整工模具各参数的数值以使得油膜厚度值达到一个理想的数值,从而对静液挤压过程进行优化设计.  相似文献   

14.
设计了液体静压导轨油膜厚度的控制系统,据此进行了普通 PID控制器和模糊PID控制器仿真分析,结果表明,模糊PID控制器的动态响应性能和控制精度比普通PID控制器更好,更能满足机床开式液体静压导轨油膜厚度控制的要求。  相似文献   

15.
开发了一套可在控温、控湿环境中开展不同形态薄层液膜下CO2腐蚀测试的实验装置,以适应薄层液膜下的CO2腐蚀机制及规律研究需求.实验装置主要由环境控制系统、液膜厚度测量系统和腐蚀电化学测试系统组成.环境控制系统主体为有机玻璃做成的密闭环境腔,既可以开展控温、控湿以及承压环境下的实验测试,同时又可方便地观察腔体内情况.薄层...  相似文献   

16.
给出了动态厚度效应特征时间的公式,灵敏度Sn与膜厚l的关系和存在最佳膜厚的特征,电导激活能随膜厚变化的特征。提出了发展气敏机理的扩散反应功能概念;提出了在纳米气敏晶粒中引入介观效应概念和修正Fermi统计的要求。  相似文献   

17.
文章采用磁控溅射的方法在n型硅基底上制备了CoN和SiN薄膜,再用薄膜测厚仪和四探针测试仪(EPP)测出样品的厚度及方块电阻,得到制备CoN和SiN薄膜的优化条件,然后由CoN和SiN薄膜制备出CoSiN薄膜.  相似文献   

18.
设计了一套机械可调式标定装置,基于该装置实验研究了3种摩擦副材质对超声测量精度的影响,并利用COMSOL Multiphysics仿真软件对实验结果进行了分析。结果表明:利用超声波探头得到的膜厚测量值相对误差普遍低于5%,说明探头测量精度较高;利用超声技术测量液体膜厚度时需考虑两侧摩擦副材质对测量精度的影响,两不锈钢板间的膜厚测量精度最高(最大相对误差为5.27%),而两PMMA板间的最低(最大相对误差为10.81%);此外,设计的机械可调式标定装置具有成本低、测量范围广、测量精度高等特点。  相似文献   

19.
准自由支撑铝薄膜系统的制备及其特征表面形貌   总被引:1,自引:0,他引:1  
采用真空蒸发的方法在液体基底表面成功制备了具有自由支撑边界条件的金属铝薄膜系统,观察并研究了薄膜中的特征表面形貌。实验发现:铝薄膜中存在着由一块块近似为长方形的畴块连接而成的自薄膜边缘向薄膜内部区域生长的特征带状结构形貌;带状结构中畴块的最大长度和最大宽度均先随薄膜厚度的增加而增大,随后稳定变小。分析认为:这些现象是由于液体基底与固体薄膜之间的特征相互作用所致。  相似文献   

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