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表面粗糙度是衡量产品表面质量的重要参数,随着表面加工精度的不断提高,产品的表面粗糙度也由微米级别向纳米级别发展。触针式表面轮廓仪是国家标准规定的测量表面粗糙度的方法,而原子力显微镜是测量表面粗糙度的新型仪器。通过对比原子力显微镜和表面轮廓仪的测量结果,分析了表面轮廓仪误差产生的主要原因,并提出了利用原子力显微镜测量薄膜纳米级表面粗糙度的方法。 相似文献
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光切法显微镜是以光切法为测量原理，测量表面粗糙度的专用光学仪器之一。文章主要就光切法显微镜物镜放大倍数确定问题加以阐述，解决了显微镜的使用问题。 相似文献
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原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)是纳米科技研究领域的一种重要工具。作为一种近场成像仪器,参数的选择对样品成像的效果有着很大的影响,不当的参数甚至可能造成样品的损坏。通过采用控制变量法,并以均方根粗糙度作为评判标准,改变AFM各项扫描参数,研究了AFM中不同参数的调整对于样品扫描图像的影响。结果表明,振幅阈值、扫描速率、积分增益三项参数对于测量样品表面粗糙度均有较大影响,通过适当改变扫描参数,可以有效提升AFM的样品扫描质量。 相似文献
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基于针尖和样品之间的各种相互作用力,原子力显微镜(AFM)可用于样品表面形貌、摩擦力等各种物理特性的研究,它是纳米科技研究中一个重要工具。影响AFM测量图像质量的因素很多,如振幅参数、积分增益I、比例增益P、衰减增益和扫描速度等,而探针同样是提高样品表面形貌像成像质量的关键。通过采用控制变量法,并以均方根粗糙度Rq作为评判标准,用不同参数的探针测量同一样品。实验结果表明,探针的共振频率f、弹性系数k、曲率半径Rh等对测量样品粗糙度均有较大影响,可选择合适的探针,提高成像质量。同时,针对仪器使用中出现的一些常见现象及故障,作出了解释和解答。 相似文献
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扫描探针显微镜是用于测量材料表面不同性质的一类仪器。扫描探针显微镜在测量材料表面电学和磁学特性方面的测量技术发展较快。本文简要介绍了电场力显微镜、磁力显微镜的测量原理，着重对新发展的测量技术的原理及应用进行了描述。 相似文献
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在物理实验的教科书中,测定液体的折射率,一般是采用掠入射法进行测量。该方法比较繁琐,所用仪器比较昂贵。现介绍用测距显微镜测定液体折射率的方法。 相似文献
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显微镜在中学生物实验教学中是一种重要的仪器。学生在使用显微镜时,由于对其结构不甚了解,没有掌握使用方法及相关要领,常常找不到观察物像,使学生对显微镜的使用产生畏惧心理。下面笔者就显微镜镜头的种类、使用方法及使用中存在的问题做一介绍。一、显微镜镜头的种类显微镜由光学部分、机械部分 相似文献
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丁鸣 《合肥联合大学学报》2006,16(3):85-87
讨论了轮廓微观不平度平均间距Sm和轮廓单峰平均间距S参数的概念，阐述及测量表面粗糙度间距参数Sm、S的探针法、光切法、干涉法和照相法．分析四种方法的长处与欠缺，提出了如何选择测量方法的几点建议． 相似文献
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用光切法测量表面粗糙度Rz、S值的实验研究 总被引：3，自引：0，他引：3
杨晓红 《实验室研究与探索》2000,19(5):50-53
用光切法测量表面粗糙度RZ、S值可实现对表面轮廓要求的二维控制。介绍了原理、操作、处理等方面的技术细节,对工程应用具有指导价值。 相似文献
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《中学生数理化(高中版)》2017,(10)
<正>物理实验中,在测量某个物理量的大小时,由于实验原理不够完善、实验仪器不够精确或者是实验方法粗略等造成的误差叫系统误差,下面介绍两种分析系统误差,比较测量值与真实值的大小关系的方法。方法一:写出物理规律方程比较测量值与真实值的大小关系例1用如图1所示的电路图,测量电源的电动势与内阻。请分析测量值与真实值的大小关系。 相似文献
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赵春梅 《中国职业技术教育》2001,(6):46-46
测量课是高职农林专业的专业基础课，是一门实践性、应用性较强的学科，内容广，教学时数少，我们在教学中探索改革，提高了教学效果。 一、调整课程教材内容 高职农林专业测量课内容应本着以够用为度，加强农林工作中常用四大仪器罗盘仪、水准仪、经纬仪和平板仪的教学，兼顾测量新仪器、新方法的介绍，使学生在掌握传统测图方法之余对新技术有一定的了解。课程内容包括测量学基本知识、距离测量、罗盘仪测量、水准测量、经纬仪及角度测量、平板仪测量、误差基本知识、控制测量、全站仪及其应用、大比例尺地形图的测绘、地形图的应用、农林… 相似文献
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