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基于针尖和样品之间的各种相互作用力,原子力显微镜(AFM)可用于样品表面形貌、摩擦力等各种物理特性的研究,它是纳米科技研究中一个重要工具。影响AFM测量图像质量的因素很多,如振幅参数、积分增益I、比例增益P、衰减增益和扫描速度等,而探针同样是提高样品表面形貌像成像质量的关键。通过采用控制变量法,并以均方根粗糙度Rq作为评判标准,用不同参数的探针测量同一样品。实验结果表明,探针的共振频率f、弹性系数k、曲率半径Rh等对测量样品粗糙度均有较大影响,可选择合适的探针,提高成像质量。同时,针对仪器使用中出现的一些常见现象及故障,作出了解释和解答。 相似文献
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原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)是纳米科技研究领域的一种重要工具。作为一种近场成像仪器,参数的选择对样品成像的效果有着很大的影响,不当的参数甚至可能造成样品的损坏。通过采用控制变量法,并以均方根粗糙度作为评判标准,改变AFM各项扫描参数,研究了AFM中不同参数的调整对于样品扫描图像的影响。结果表明,振幅阈值、扫描速率、积分增益三项参数对于测量样品表面粗糙度均有较大影响,通过适当改变扫描参数,可以有效提升AFM的样品扫描质量。 相似文献
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崔向群 《邢台职业技术学院学报》1997,(3)
用光切显微镜(也叫双管显微镜)测量表面粗糙度,采用的方法叫光切法。测量粗糙度时,目镜视场内成像质量的好坏,以及仪器使用方法的正确与否,将直接影响测量结果。因此,必须精心调整仪器,提高测量精度。本文对实验课中仪器调整及测量中常见的一些问题及消除方法作一介绍。 相似文献
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吴真平 《常熟理工学院学报》2006,20(2):31-34
用磁控溅射方法生长三明治结构的YBa2Cu3O7-δ/La0.67Ca0.33MnO3/YBa2Cu3O7-δ(YBCO/LCMO/YBCO)薄膜。该薄膜为完全(001)取向。掠入射X射线反射结果表明,YBCO/LCMO的界面有互扩散,其扩散长度为几个纳米。表层与界面的方均粗糙度(rms)随着YBCO层的厚度而变化,这与原子力显微镜的测量结果一致;进一步研究表明方均粗糙度与薄膜的失配应变弛豫相关。 相似文献
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原子力显微镜(AFM)作为现代微观领域研究的重要工具,在表面分析中具有广泛的应用,它具有非常高的分辨率,是近年来表面成像技术中最重要的进展之一。本文介绍了利用原子力显微镜进行表面分析研究的基本原理以及原子力显微镜的硬件系统组成,重点介绍了利用原子力显微镜在生物、化学、材料等领域进行表面分析的现状。 相似文献
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光切法显微镜是以光切法为测量原理，测量表面粗糙度的专用光学仪器之一。文章主要就光切法显微镜物镜放大倍数确定问题加以阐述，解决了显微镜的使用问题。 相似文献
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王莹 《商丘职业技术学院学报》2009,8(2):58-60
采用射频反应磁控溅射氧化铪钯的方法,在硅衬底成功制备了高介电HfOxNy薄膜．利用原子力显微镜,研究氮的掺入对薄膜表面形貌的影响,结果表明,N的掺杂改善了HfO2薄膜的表面形貌,同时抑制了高温退火过程中表面粗糙度的增加;通过椭圆偏振仪对薄膜的光学特性的研究表明,随退火温度的升高,薄膜的折射率和消光系数都呈上升趋势． 相似文献
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扫描隧道显微镜或原子力显微镜使人们能够操纵吸附在材料表面的单个原子或分子．这种技术可从单个原子、分子开始组装具有特定功能的纳米结构,也能组装、拆解分子从而控制化学反应的进程,将在物理、化学等多学科领域发挥重要作用．本文综述了近年来在金属材料表面进行单原子操纵的研究进展,介绍了单原子操纵的方法和机制,并对有待进一步研究的若干问题进行初步探讨． 相似文献
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原子力显微镜在高分子领域的应用进展 总被引：2，自引：0，他引：2
原子力显微镜(AFM)是在扫描隧道显微镜(STM)基础上发明的又一种纳米级高分辨率显微技术，目前已在高分子领域获得了广泛的应用．AFM无需对样品进行任何预处理即可对各种材料进行微观区域的表面形貌及机械性能探测，或者直接进行纳米操纵．表文则从表征聚合物聚集态、物理性质、分子量及其分布等几个方面综述了当前AFM应用于高分子材料研究的最新进展和新技术． 相似文献
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杨英 《廊坊师范学院学报(自然科学版)》2009,9(2):40-42
针对AutoCAD软件中存在的不足,介绍了在AutoCAD中进行表面粗糙度标注的三种方法,详细阐述了各种方法的实现与研究过程。 相似文献
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抗凝血性高分子生物材料的表面改性方法研究进展 总被引：1，自引：0，他引：1
改善材料的血液相容性是高分子生物材料研究领域中重要的性能指标,而对材料进行表面改性又是这一环节中的关键。综述了抗凝血高分子材料的3种设计方法:生物化学表面改性、物理化学表面改性及表面形态改性。生物化学表面改性包括材料表面的接枝改性、引入生物活性物质、微相分离、内皮细胞化。物理化学表面改性包括等离子体表面改性、表面自组装分子层。材料的表面形态改性包括表面粗糙度的控制等。并总结了以上方法的研究进程及存在的问题。 相似文献
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针对使用AutoCAD绘制机械图样时,表面粗糙度符号不能自动标注的问题,在Auto CAD2008中利用VBA二次开发环境,对AutoCAD2008平台上表面粗糙度标注进行了开发,创建了表面粗糙度的模块和属性。用户只需在标注系统界面上选择各项参数就能完成表面粗糙度的标注,其使用简便且界面友好。 相似文献
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童和平 《广东广播电视大学学报》2014,(1):109-112
基于集群磁流变效应超光滑平面抛光理论及试验装置对单晶碳化硅基片进行了平面抛光试验,结果表明,金刚石磨料对单晶Sic基片具有较高的材料去除率;加工间隙在1．5I砌左右具有较好的加工效果,随着加工时间的延长表面粗糙度越来越小,且30min内表面粗糙度变化率达到89％以上。通过优化工艺参数对单晶SiC进行集群磁流变平面抛光,发现经过30min加工,表面粗糙度Ra从42．1m下降到4．2nm,表明集群磁流变效应平面抛光用于加工单晶SiC基片可行且效果显著。 相似文献
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黄昕龙花海燕陈世辉 《福建工程学院学报》2020,(6):524-529
产品的表面质量差严重制约了熔融沉积成型(fused deposition modeling,FDM)工艺的发展,通过粗糙度成型机理构建参数模型是提升FDM 成型件表面质量的重要途径。文章以某FDM 打印设备成型件的水平表面粗糙度为例,通过探讨参数三次曲线与多段直线拟合的丝宽模型,利用粗糙度的几何机理提出了基于3 个主要工艺参数的回归模型,采用样条变换的非线性偏最小二乘回归(partial least squares,PLSR)建立对所选参数的有效预测模型,并对建模中未覆盖的不同打印参数下的实验数据样本进行校验,分析工艺参数对水平表面粗糙度的影响。通过以上研究方法,提高了水平表面粗糙度预测效率,获取了相关的经验知识。 相似文献
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詹友基江宋然许永超左振周家骐 《福建工程学院学报》2020,(6):511-517
采用树脂结合剂金刚石砂轮对纳米晶粒硬质合金进行平面磨削试验,结合单因素和正交实验研究不同磨削要素即磨削深度ap、工件进给速度vw、砂轮线速度vs 对磨削纳米晶粒硬质合金表面粗糙度的影响。结果表明,磨削深度ap 和工件进给速度vw 增加,表面粗糙度增加?砂轮线速度vs 增加,表面粗糙度减小。磨削3 要素对纳米晶粒硬质合金表面粗糙度影响程度的大小依次是工件进给速度、砂轮线速度、磨削深度。因此,为了获得好的表面质量可以采取小进给、小切深、高砂轮线速度的组合方式进行磨削?同时建立了磨削纳米晶粒硬质合金的表面粗糙度数学模型并验证了模型的可靠性。 相似文献
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表面粗糙度是用来评价一个加工后的零件的几何精度的标准,影响表面粗糙度的因素很多,其中包括砂轮的表面特性、形貌、磨削工艺参数等。通过磨削工艺实验并对数据分析找出表面粗糙度的影响因素及其变化规律,这样能够更好地找出使粗糙度变低的磨削参数以及砂轮的修整参数,所得出的参数能够为降低粗糙度提供更为充足的数学依据。 相似文献
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温志远 《广东轻工职业技术学院学报》2006,5(3):5-7
高速切削（HSC）以高的加工效率和高的加工质量为主要特征。工件已加工表面粗糙度为评价工件表面质量的重要指标。机床、刀具与工件材料是影响高速切削已加工表面粗糙度的外在关键因素,通过对铝合金高速切削条件下工件表面粗糙度形成过程及影响因素的深入分析研究、对降低工件已加工表面粗糙度方法和手段的探索,系统地分析了切削过程中表面粗糙度的控制因素。 相似文献