排序方式： 共有3条查询结果，搜索用时 453 毫秒
1
1.
针对现有集成电路测试设备结构复杂,功能单一的缺点,本文利用FPGA核心板、D／A模块、A／D模块、电流转换电压电路等器件,采用SOPC技术,设计了一个中小规模通用数字集成电路测试系统,在逻辑功能测试的基础上。实现了74系列中小规模数字集成电路直流性能参数的测试。通过实验,将测试结果与标准的反相器参数进行比较,数据结果一致。表明参数测试仪符合设计要求,设计方案具有一定的参考价值。 相似文献
2.
3.
针对现有集成电路测试设备结构复杂,功能单一的缺点,本文利用FPGA核心板、D/A模块、A/D模块、电流转换电压电路等器件,采用SOPC技术,设计了一个中小规模通用数字集成电路测试系统,在逻辑功能测试的基础上,实现了74系列中小规模数字集成电路直流性能参数的测试。通过实验,将测试结果与标准的反相器参数进行比较,数据结果一致。表明参数测试仪符合设计要求,设计方案具有一定的参考价值。 相似文献
1