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为解决在科研和商业活动中需对芯片是否损坏进行检测的问题,设计由上位Pc机软件和检测端组成的智能数字芯片检测仪。检测端由单片机AT89S52数据处理模块、复杂可编程逻辑器件（CPLD）EPM5256待浏芯片控制模块、双通道24位模数转换芯片（A／D）CS5550采样电路、电可擦写可编程只读存储器（EEPROM）AT24C08存储电路、LED显示电路和过流保护电路组成。检测端具备与上位Pc机串口通信功能,通过上住机软件用户可以自行更新、编辑待测芯片库,检测端可以脱离上位机,同时对两个48管脚以内双列直插式（DIP）封装的数字芯片进行检测。 相似文献
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