基于蚁群-遗传混合算法的系统芯片低功耗测试方案     

张培明  商进  李晓龙 《黑龙江科技信息》2015,(20)

针对系统芯片测试功耗快速增加的特点,提出了一种有效的低功耗测试方案。该方案将测试向量的海明距离作为测试功耗优化的目标,将测试功耗优化问题转化为对测试向量进行海明距离排序问题,采用一种改进的蚁群-遗传混合算法对测试向量进行排序,从而使测试功耗最低。针对ISCAS 89部分标准电路实验结果表明,该方案能有效的降低测试功耗。  相似文献   

基于互补相容数据块编码的测试数据压缩方案     

商进 《黑龙江科技信息》2015,(14)

针对集成电路芯片测试数据快速增长的特点,提出了一种有效的测试数据压缩方案。该方案将测试数据根据不通特点分组,用一种定长的二进制代码来代替分组后的测试数据。同时给出了一种关于该测试数据压缩方案的解压缩电路,实验结果表明,该方案能显著提高压缩率。  相似文献   

集成电路低功耗测试技术研究     

商进 《黑龙江科技信息》2015,(20)

针对测试过程中集成电路芯片测试功耗过高的问题,简要分析了集成电路芯片测试技术的现状,对国内外相应的测试方案进行了探讨,并对各种方案的优缺点进行了总结。  相似文献