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材料、工件的残余应力及其分布特征是影响其物理化学性能的重要因素.目前,虽然 X 射线应力仪已经得到商业化普及,但其只可测定材料表层约 10 微米深度范围内的应力,无法完成内部应力的无损测定.中子衍射和高能同步辐射装置可用于材料内部应力测试,但该类仪器都是以反应堆、散裂中子源或同步辐射光源等大型装置为基础,这些装置设备庞大、造价昂贵,无法市场化推广. 相似文献
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