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随着集成电路工艺尺寸进入超深亚微米数量级,电源电压相应降低,而时钟频率却不断提高,电源网格中的动态电流变化率越来越大,使得动态电源压降(IR Drop)的问题更突出。在这种工艺按比例缩小的趋势下,去耦电容(decap电容)在电源网格中的合理布局的作用日益明显:以优化的方式放置decap电容来有效地减小电源噪声。文章介绍基于动态电源压降分析的VSDG和SOC-Encounter相结合的去耦电容优化方法学。 相似文献
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