| 时间交叉存取逐次逼近型ADC中的电容自校准技术 |
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| 引用本文： | 殷勤,戚韬,吴光林,吴建辉.时间交叉存取逐次逼近型ADC中的电容自校准技术[J].东南大学学报,2006,22(2):164-168. |
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| 作者姓名： | 殷勤 戚韬 吴光林 吴建辉 |
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| 作者单位： | 东南大学国家ASIC系统工程技术研究中心 南京210096 |
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| 基金项目： | Acknowledgement The author would like to thank Li Hong at the National ASIC System Engineering Research Center of Southeast University for his valuable chip layout work. |
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| 摘 要： | 设计了一种用于逐次逼近型ADC中的电容自校准电路.通过增加一个校准周期,该电容自校准结构即可与原电路并行工作,并可校准电路工作时产生的误差.采用该电路设计了一个用于多通道逐次逼近型结构的10bit32Msample/s模数转换器单元,该芯片在Chart0.25μm2.5V工艺上实现,总的芯片面积为1.4mm×1.3mm.在32MHz工作时,通过校准后的信噪比仿真结果为59.5861dB,无杂散动态范围为70.246dB.芯片实测,输入频率5.8MHz时,信噪失真比为44.82dB,无杂散动态范围为63.7604dB.
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| 关 键 词： | 电容自校准 模数转换器 逐次逼近 时间交叉存取 |
| 收稿时间： | 03 31 2006 12:00AM |
Capacitor self-calibration technique used in time-interleaved successive approximation ADC |
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| Yin Qin,Qi Tao,Wu Guanglin,Wu Jianhui.Capacitor self-calibration technique used in time-interleaved successive approximation ADC[J].Journal of Southeast University(English Edition),2006,22(2):164-168. |
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| Authors: | Yin Qin Qi Tao Wu Guanglin Wu Jianhui |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | capacitor self-calibration analog-to-digital converter successive approximation time-interleaved |
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