首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

薄膜应力测量研究现状
引用本文:徐鹏,张萌.薄膜应力测量研究现状[J].科技广场,2006(12):125-126.
作者姓名:徐鹏  张萌
作者单位:1. 南昌大学分析测试中心
2. 南昌大学材料科学与工程学院,南昌,330047
基金项目:南昌大学校科研和教改项目
摘    要:本文总结了薄膜应力的一些测量方法,对一些主要测量方法的基本原理及各自的特点进行了综述。探讨了薄膜应力研究的发展方向。

关 键 词:薄膜  应力
文章编号:1671-4792-(2006)02-0125-02

Current Status of Research on Measurement of the Stress in Thin Film
Xu Peng,Zhang Meng.Current Status of Research on Measurement of the Stress in Thin Film[J].Science Mosaic,2006(12):125-126.
Authors:Xu Peng  Zhang Meng
Institution:l,Analyze and Test Center of Nanchang University; 2.Material Science and Technology Department of Nanchang University, Nanchang 330047
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号