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| 牛顿环常见应用概述 | |
| 引用本文： | 王明吉,张利巍,聂,明.牛顿环常见应用概述[J].黑龙江科技信息,2014(11):50. |
| 作者姓名： | 王明吉 张利巍 聂 明 |
| 作者单位： | 东北石油大学;黑龙江省高校校企共建测试计量技术及仪器仪表工程研发中心; |
| 摘 要： | 牛顿环是产生等厚干涉的典型装置,其干涉现象在科学研究和工业技术中有着广泛的应用,如测量光波波长,测量透镜曲率半径,检验试件表面的光洁度,测量液体折射率,研究机械零件内应力的分布以及在半导体技术中测量硅片上氧化层的厚度等。 |
| 关 键 词： | 牛顿环 应用 测量 检验 |
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