面向可复用IP核测试的JTAG设计 |
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引用本文: | 黎东涛.面向可复用IP核测试的JTAG设计[J].大众科技,2005(1):45-47. |
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作者姓名: | 黎东涛 |
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作者单位: | 嘉应学院电子信息工程系,广东,梅州,514015 |
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摘 要: | 文章提出了一种基于面向可复用IP核测试的JTAG设计方素.该设计在JTAG工业标准的基础上,支持寄存器查看和设置、IP核程序流跟踪、代码覆盖率检查、代码分析、IP核扫描测试等功能.
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关 键 词: | JTAG TAP 边界扫描 扫描链 IP |
文章编号: | 1008-1151(2005)01-0045-03 |
修稿时间: | 2005年1月20日 |
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