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面向可复用IP核测试的JTAG设计
引用本文:黎东涛.面向可复用IP核测试的JTAG设计[J].大众科技,2005(1):45-47.
作者姓名:黎东涛
作者单位:嘉应学院电子信息工程系,广东,梅州,514015
摘    要:文章提出了一种基于面向可复用IP核测试的JTAG设计方素.该设计在JTAG工业标准的基础上,支持寄存器查看和设置、IP核程序流跟踪、代码覆盖率检查、代码分析、IP核扫描测试等功能.

关 键 词:JTAG  TAP  边界扫描  扫描链  IP
文章编号:1008-1151(2005)01-0045-03
修稿时间:2005年1月20日
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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