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庆祝XS分析天平荣获R&D100大奖5周年——梅特勒-托利多XP/XS分析天平“以旧换新”活动
摘    要:梅特勒-托利多XS分析天平自问世以来,受到了众多专家及用户的一致好评,并在2004年荣获了由美国著名科技杂志《R&D》颁发的R&D100大奖,以此表彰梅特勒.托利多为称量技术的创新做出的卓越贡献!

关 键 词:天平  换新    称量技术  R&D
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