| VMJ硅X—RAY探测器件的研究与参数测算 |
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| 引用本文： | 张治国.VMJ硅X—RAY探测器件的研究与参数测算[J].泉州师范学院学报,2001,19(2):15-20. |
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| 作者姓名： | 张治国 |
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| 作者单位： | 泉州师范学院物理系,福建,泉州,362000 |
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| 摘 要： | 介绍VMJ器件的结构和结果，并对器件的各种参数进行了详细的测算，同时分析了工艺条件对器件性能的影响，对器件窗口材料的选择也作了讨论。
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| 关 键 词： | X射线 半导体 VMJ X－RAY探测器件 无损检测 垂直多重PN结 硅 焊缝检测 参数测算 |
| 文章编号： | 1009-8224(2001)02-0015-06 |
| 修稿时间： | 2001年1月11日 |
A Study and Parameter Measurement and Calculation on VMJ Si X-RAY Sounder |
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| ZHANG,Zhi-guo.A Study and Parameter Measurement and Calculation on VMJ Si X-RAY Sounder[J].Journal of Quanzhou Normal College,2001,19(2):15-20. |
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| Authors: | ZHANG Zhi-guo |
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| Abstract: | In this paper,the results and structure of VMJ sounder are introduced,and many parameters of sounder are measured and calculated. The effects of the process control on device performance are analyzed, meanwhile, the selection on window material is discussed too. |
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| Keywords: | X-ray semiconductor sounder VMJ |
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