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| 基于椭圆偏振法的薄膜厚度测量 | |
| 引用本文： | 李勇,李刚,曹小荣,李亮.基于椭圆偏振法的薄膜厚度测量[J].安阳工学院学报,2016(4):6-8. |
| 作者姓名： | 李勇 李刚 曹小荣 李亮 |
| 作者单位： | 1. 河南质量工程职业学院,河南平顶山,467000;2. 军械工程学院电子与光学工程系,石家庄,050003 |
| 基金项目： | 河南省科技计划项目(编号132102310495)。 |
| 摘 要： | 选用Si3N4薄膜和ZrO薄膜两种光学材料作为测试对象以研究椭圆偏振法测量薄膜厚度的精度。实验结果表明，椭圆偏振法的精度较高，但对于数量级在几十个nm的光学薄膜，误差相对较大。该实验为进一步调试和改进测试平台，对单一材料多层膜和不同材料多层膜等更加复杂的膜系进行研究提供了参考。 |
| 关 键 词： | 薄膜技术 薄膜厚度 椭圆偏振法 |
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