| 嵌入式系统的存储器测试 |
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| 引用本文： | 李云飞,李德水.嵌入式系统的存储器测试[J].渭南师范学院学报,2006,21(2):37-40. |
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| 作者姓名： | 李云飞 李德水 |
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| 作者单位： | 1. 渭南师范学院,计算机科学系,陕西,渭南,714000;西安电子科技大学,通信工程学院,西安,710070
2. 渭南师范学院,计算机科学系,陕西,渭南,714000 |
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| 摘 要： | 文章认为,电子设备中嵌入式系统的存储器有可能在3个方面出现问题,应该从数据总线、地址总线和存储器件等方面进行测试以发现问题.
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| 关 键 词： | 嵌入式系统 存储器 地址总线 数据总线 控制总线 |
| 文章编号： | 1009-5128（2006）02-0037-04 |
| 收稿时间： | 2005-09-23 |
| 修稿时间： | 2005-09-23 |
Testing For Embedded Memory |
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| LI Yun-fei,LI De-shui.Testing For Embedded Memory[J].Journal of Weinan Teachers College,2006,21(2):37-40. |
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| Authors: | LI Yun-fei LI De-shui |
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| Abstract: | This paper thinks that the memory of embedded system in electronic equipment may cause some problems in three aspects.So we should test it to find where the problems exist from those ways such as data bus,address bus and memory device. |
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| Keywords: | embedded system memory address bus data bus control bus |
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