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E系统下的审查质量控制模式优化探讨
引用本文:崔朝利,张清涛.E系统下的审查质量控制模式优化探讨[J].中国发明与专利,2013(7):97-101.
作者姓名:崔朝利  张清涛
作者单位:国家知识产权局专利局专利审查协作北京中心
摘    要:E系统借助计算机技术,使专利审查的过程信息能够进行有效的传递和反馈,在实现监控质量的同时,还能够促进审查经验的交流和传播。本文提出采用质量反馈学习卡的方式,使所属技术领域的审查员能够参与质控及共同学习,共享审查经验。标准案例库能够辅助审查,增强审查意见的准确性和一致性,另外本文提出质量管理结构、质量缺陷坐标图、隶属函数推理模型,可以实现对专利审查流程的局部优化。

关 键 词:专利电子审批系统  E系统  质量反馈  学习卡  质检  质量缺陷坐标  质量管理结构  隶属函数  案例库
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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