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| 二氧化硅常见测定方法的探讨 | |
| 引用本文： | 侯双霞,侯宏涛.二氧化硅常见测定方法的探讨[J].环球赛鸽科技,2015(18). |
| 作者姓名： | 侯双霞 侯宏涛 |
| 作者单位： | 1. 河南省机械设计研究院有限公司,河南郑州,450002 2. 河南理工大学能源科学与工程学院,河南焦作,454003 |
| 摘 要： | 主要介绍了目前二氧化硅的常见测定方法，例如重量法、氟硅酸钾容量法、X射线荧光光谱法等，并对各个方法进行了论述，这将对实际的分析工作有一些指导作用。 |
| 关 键 词： | 二氧化硅(SiO2) 传统化学法 X射线荧光光谱法 电感耦合等离子体发射光谱法 其他方法 |
Discussion on Common Determination Methods of Silicon Dioxide |
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| HOU Shuang-xia,HOU Hong-tao.Discussion on Common Determination Methods of Silicon Dioxide[J].Global Racing Pigeon Science,2015(18). | |
| Authors: | HOU Shuang-xia HOU Hong-tao |
| Abstract: | |
| Keywords: | Silicon dioxide(SiO2) Traditional chemical methods X-ray Fluorescence Spectrometry Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectrometry Other methods |
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