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| NAND闪存可靠性验证实验平台设计与应用 | |
| 引用本文： | 王今雨,安健,王龙翔,唐新龙,丁跃,陈睿佳.NAND闪存可靠性验证实验平台设计与应用[J].实验技术与管理,2024(2):186-192. |
| 作者姓名： | 王今雨 安健 王龙翔 唐新龙 丁跃 陈睿佳 |
| 作者单位： | 1. 西安交通大学计算机科学与技术学院;2. 西安邮电大学计算机学院 |
| 基金项目： | 国家重点研发计划项目（2022YFB3305503）；;陕西省重点研发一般项目（2023-YBGY-403）； |
| 摘 要： | 为满足NAND闪存芯片性能和可靠性量化分析与测试的教学实验需求，自研NAND闪存可靠性验证实验设备，基于该设备构建了NAND闪存可靠性验证实验平台。平台支持软硬件构建过程测试和结果分析等相关实验内容，并通过实例测试验证了其实用性。平台可覆盖计算机类工科本科阶段多门专业课程的课内实验、专题实验、开放创新实验、课程设计以及毕业设计等，培养学生理论结合实践、独立思考、动手解决工程问题的能力。 |
| 关 键 词： | 实验设备 闪存可靠性 数字电路设计 FPGA |