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| 基于NI FlexRIO的高速ADC性能测试系统 | |
| 引用本文： | 谈臣.基于NI FlexRIO的高速ADC性能测试系统[J].黑龙江科技信息,2010(16):25-25. |
| 作者姓名： | 谈臣 |
| 作者单位： | 上海恩艾仪器有限公司,上海,110000 |
| 摘 要： | 这是FlexRIO在半导体芯片有效性测试中的一个典型应用。高速ADC的传统测试系统的设计极有可能遇到一些棘手问题。基于FlexRIO的测试系统,很好地解决了传统测试方法中的这些关键性问题,并且能确保在测试系统开发时,开发人员能够将更多的精力放在与其目标应用直接相关的部分,从而缩短开发周期,节省开发人力成本。 |
| 关 键 词： | FlexRIO ADC 测试 FPGA |
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