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| X射线光电子能谱扩展新方法的研究 | |
| 引用本文： | 叶小燕,姚文清,朱永法,曹立礼.X射线光电子能谱扩展新方法的研究[J].实验技术与管理,2000,17(6):17-19. |
| 作者姓名： | 叶小燕 姚文清 朱永法 曹立礼 |
| 作者单位： | 清华大学分析中心实验室,北京100084 |
| 摘 要： | 本文研究了表面分析技术－Ｘ射线光电子能谱扩展电子能谱的微小差别物种鉴定上的应用。建立在新型功能碳材料中碳元素的化学状态的分析方法。利用Ｘ射线电子能谱的指纹峰、Ｘ射线激发俄歇谱、变角Ｘ射线光电子谱技术对新型功能材料以及纳米器件的研究开发提供了导向信息． |
| 关 键 词： | X射线 光电子能谱 表面分析技术 功能材料 |
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