| CCD 等厚干涉实验仪的研究 |
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| 引用本文： | 曾金根,吴评,韩道福,马力.CCD 等厚干涉实验仪的研究[J].实验室研究与探索,2003,22(6):55-57. |
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| 作者姓名： | 曾金根 吴评 韩道福 马力 |
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| 作者单位： | 1. 南昌大学,设备处,江西,南昌,330029
2. 南昌大学,基础课部,江西,南昌,330029 |
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| 摘 要： | 采用显微光学系统取代读数显微镜，构成新型的CCD等厚干涉实验仪。通过计算机图像处理技术来补偿因视场扩大带来的条纹分辨率降低的影响。实验测试比较显示，CCD等厚干涉实验仪具有实验观察效果好和采集数据更方便的优点。
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| 关 键 词： | CCD等厚干涉仪 图像处理 实验装置 显微光学系统 大学 物理实验 干涉条纹 |
| 文章编号： | 1006-7167(2003)06-0055-03 |
| 修稿时间： | 2002年11月30 |
Study of CCD Equal-Thickness Interferometer |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | CCD micrographic optical system equal-thickness interferometer image processing |
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