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基于专利交互影响分析的纳米技术发展模式国际比较
引用本文:马荣康,刘凤朝.基于专利交互影响分析的纳米技术发展模式国际比较[J].中国软科学,2012(12).
作者姓名:马荣康  刘凤朝
作者单位:大连理工大学管理与经济学部,辽宁大连,116024
基金项目:国家自然科学基金项目,国家自然科学基金重点项目
摘    要:本文采用基于专利的交互影响分析(patent-based cross impact analysis)方法,根据专利的IPC分类(国际专利分类)及其所属技术领域信息,构建识别不同纳米技术领域交互影响模式的分析框架;利用美国专利和商标局(USPTO)专利数据,对比分析了美国、日本、德国与韩国的纳米技术发展模式,并通过探讨中国纳米技术的发展现状,提出中国纳米技术实现跨越式发展的政策启示.

关 键 词:专利  交互影响分析  纳米技术  发展模式  国际比较

An International Comparative Study on Development Pattern of Nanotechnology through Patent-based Cross Impact Analysis
MA Rong-kang , LIU Feng-chao.An International Comparative Study on Development Pattern of Nanotechnology through Patent-based Cross Impact Analysis[J].China Soft Science,2012(12).
Authors:MA Rong-kang  LIU Feng-chao
Abstract:
Keywords:
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