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X荧光光谱法测试地质样品中的锡

摘要：	应用X射线荧光光谱法对地质样品当中的锡进行测试,采用人工配置标准样品的方法来共同构建标准曲线,曲度梯度都要保证其合理性和均匀性,同时在实际的操作中,还要保证其具有非常好的线性特征。这种方法使用的是α经验系数法完成基体校正工作。应用Rh的康普顿散射当作是内标,对地质样品当中的锡元素进行测定,检出限可以达到3.59μg/g,样品的相对标准偏差能够达到非常好的水平是,所以,其在测试效果上也有着非常好的表现。
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