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一种背光源玻璃底板缺陷检测新方法
引用本文:程和生,程和侠,张华坤,刘路路.一种背光源玻璃底板缺陷检测新方法[J].合肥师范学院学报,2015,33(3):29-32.
作者姓名:程和生  程和侠  张华坤  刘路路
作者单位:1. 合肥师范学院计算机学院,安徽合肥,230601;2. 安庆师范学院计算机与信息学院,安徽安庆,246011;3. 合肥工业大学仪器科学与光电工程学院,安徽合肥,230009
基金项目:安徽高校省级优秀青年人才基金重点项目视频文本提取关键技术研究2011SQRL129ZD
摘    要:背光源玻璃底板表面缺陷检测的难点在于其扫描图像受到不均匀光照之影响,且具有较为复杂的纹理信息.为有效分割缺陷,必须在拉平背景信号与纹理信号的同时,增强Mura信号.其中背景信号与纹理信号的信息存在于小波近似系数中,而Mura信号的信息存在于细节系数中.利用图像均值代替近似系数,利用对比敏感度函数加权细节系数,通过小波反变换将系数合成,使Mura信号得到增强,再利用三阈值法分割背光源玻璃底板的亮斑缺陷与毛发缺陷,最后根据图像中上下两行的关系减少误判率.实验结果表明,该算法对光照不敏感,具有良好的鲁棒性.

关 键 词:缺陷检测  小波分析  对比敏感度  背光源玻璃底板表面

A New Method of Defect Detection in Backlight Glass Substrate
CHENG Hesheng , CHENG Hexia , ZHANG Huakun , LIU Lulu.A New Method of Defect Detection in Backlight Glass Substrate[J].合肥师范学院学报,2015,33(3):29-32.
Authors:CHENG Hesheng  CHENG Hexia  ZHANG Huakun  LIU Lulu
Institution:CHENG Hesheng;CHENG Hexia;ZHANG Huakun;LIU Lulu;School of Computer Science,Hefei Normal University;School.of Computer and Information,Anqing Teachers College;School of Instrument Science and Opt-electronic Engineering,Hefei University of Technology;
Abstract:
Keywords:
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