| 基于过采样技术提高SOC 单片机片内A/D分辨率的研究与实现 |
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| 引用本文： | 李勇,牛文学.基于过采样技术提高SOC 单片机片内A/D分辨率的研究与实现[J].安阳师范学院学报,2007(2):52-53. |
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| 作者姓名： | 李勇 牛文学 |
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| 作者单位： | 安阳师范学院,电气电子信息工程系,河南,安阳,455000 |
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| 摘 要： | 叙述了基于过采样技术,使用软件方法提高单片机片内A/D分辨率的基本原理及实现方法。给出了一个实现示例,将C8051F040片内12位分辨率ADC提高到16位分辨率。
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| 关 键 词： | 过采样 模数转换C8051F040 |
| 文章编号： | 1671-5330（2007）02-0052-02 |
| 修稿时间： | 2006-12-18 |
Resolution Improvement of ADC in the MCU by Using the Oversampling and Mean Value Technology |
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| LI Yong,NIU Wen-Xue.Resolution Improvement of ADC in the MCU by Using the Oversampling and Mean Value Technology[J].Journal of Aayang Teachers College,2007(2):52-53. |
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| Authors: | LI Yong NIU Wen-Xue |
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| Institution: | Electronic and Information Engineering Department, Anyang Teachers College, Anyang 455000, China |
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| Abstract: | This paper introduces a simple method that improves ADC resolution using software.By over sampling methods,the accuracy for C8051F040 microprocessor with on-chip 12-bit ADC can reach that of 16-bit ADC. |
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| Keywords: | Over sampling A/D C8051F040 |
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