首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

NI视觉软件的光学元件厚度测量装置
作者单位:;1.天津电子信息职业技术学院电子技术系
摘    要:介绍一种基于NI视觉软件的光学元件厚度测量装置。首先介绍光学元件厚度测量的基本原理-迈克尔逊等倾干涉;然后搭建光路,利用CCD进行干涉图像采集,传输到计算机中,利用NI视觉软件对图像进行处理,得出光学元件厚度;最后对测量误差产生的原因和消除途径进行了分析。该装置经过详实周密的数据处理,提高了测量精度和分辨力。

关 键 词:迈克尔逊干涉仪  等倾干涉  厚度测量  NI视觉软件

The Experimental Device for Measuring the Thickness of the Optical Elements Based on NI Vision Software
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号