分光计的调整对椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率的影响 |
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引用本文: | 杨昌虎,杨力君.分光计的调整对椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率的影响[J].实验技术与管理,2005,22(11):40-41,118. |
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作者姓名: | 杨昌虎 杨力君 |
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作者单位: | 长沙理工大学物理与电子科学系,长沙,410077 |
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摘 要: | 该文用了两个不同的薄膜样品,在两台不同的分光计上,用不同的入射角对薄膜的厚度和折射率进行了测量,并通过比较实验结果,说明了在用椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率的实验中,分光计的调整对实验结果的影响是可以忽略的。
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关 键 词: | 椭圆偏振法 分光计 薄膜 厚度 折射率 |
文章编号: | 1002-4956(2005)11-0040-02 |
收稿时间: | 2005-03-14 |
修稿时间: | 2005-03-14 |
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