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基于C8051F的阵列型LED器件测试仪硬件系统设计
引用本文:徐健,邬正义,王斌,杜广文.基于C8051F的阵列型LED器件测试仪硬件系统设计[J].常熟理工学院学报,2010,24(2):79-82.
作者姓名:徐健  邬正义  王斌  杜广文
作者单位:常熟理工学院物理与电子工程学院,江苏,常熟,215500;常熟理工学院物理与电子工程学院,江苏,常熟,215500;常熟理工学院物理与电子工程学院,江苏,常熟,215500;常熟理工学院物理与电子工程学院,江苏,常熟,215500
摘    要:介绍了阵列型LED器件电参数测试仪的测试原理和控制方法,基于高性能混合信号单片机C8051F060,提出了该测试仪的系统设计方案.对测试仪硬件系统的总体结构以及正向导通电压测试电路、反向漏电流测试电路、测试回路和阵列选择电路等主要功能模块的硬件实现作了具体阐述和分析.

关 键 词:LED  C8051F  恒流源  正向电压  漏电流

The System Design of the LED Array Devices' Tester Based on C8051F
XU Jian,WU Zheng-yi,WANG Bin,DU Guang-wen.The System Design of the LED Array Devices' Tester Based on C8051F[J].Journal of Changshu Institute of Technology,2010,24(2):79-82.
Authors:XU Jian  WU Zheng-yi  WANG Bin  DU Guang-wen
Abstract:
Keywords:LED  C8051F
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