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| 大规模集成电路的功能测试研究 | |
| 引用本文： | 翟涛.大规模集成电路的功能测试研究[J].中国科技纵横,2014(5):78-78. |
| 作者姓名： | 翟涛 |
| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第二十研究所,陕西西安710068 |
| 摘 要： | 本文介绍了大规模集成电路功能测试的基本原理，并对集成电路功能测试的几个主要方法进行了概述，通过对比每种测试方法的优缺点，进而得出模拟故障法为适合我国大规模集成电路功能测试的最佳方法。该方法主要是解决了随着大规模集成电路的发展，单个电路本身的输入、输出管脚数量不断增加而带来的测试矢量呈现指数增长的问题，从测试时间和测试成本上考虑，使用传统的穷举法已经不可能符合大规模集成电路的测试要求。与传统的穷举法相比，它可以在不降低测试结果的准确性和可靠性的同时，使编制程序所需要的测试矢量控制在可以接受的水平上。最后，本文介绍了模拟故障法的主要思路和测试顺序。 |
| 关 键 词： | 大规模集成电路 功能测试 模拟故障法 |
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