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| 基于FPGA技术扩展单片机接口的温度测试系统 | |
| 引用本文： | 于坤林,李世平.基于FPGA技术扩展单片机接口的温度测试系统[J].中国科技信息,2009(7). |
| 作者姓名： | 于坤林 李世平 |
| 作者单位： | 长沙航空职业技术学院,410124 |
| 摘 要： | 传统的单片机温度测试系统设计复杂且可靠性不高,本文介绍了一种利用FPGA技术来实现单片机的温度测试系统的设计方法.该系兢利用FPGA来实现单片机与其外围芯片之间的逻辑控制,井利用它来扩展单片机的1/0接口,该系统具有结构简单、设计灵活、可靠性高等优点. |
| 关 键 词： | FPGA技术 单片机 温度测试系统 接口 |
Temperature test system based on FPGA extending MCU interface |
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