| 基于DEMATEL专利模型的技术影响关系研究 |
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| 引用本文： | 周洪,梁希,魏凤,李小春.基于DEMATEL专利模型的技术影响关系研究[J].科技管理研究,2020,40(23):153-159. |
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| 作者姓名： | 周洪 梁希 魏凤 李小春 |
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| 作者单位： | 中国科学院武汉文献情报中心,湖北武汉430071;湖北省科技大数据重点实验室,湖北武汉430071;爱丁堡大学商学院,英国爱丁堡EH8 9JS;中科院武汉岩土力学研究所,湖北武汉430071 |
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| 基金项目： | 中国科学院文献情报中心青年人才领域前沿个人项目——“基于DEMATEL模型的专利技术交叉影响图谱构建方法研究”(项目编号：2019QNGR001)；中国科学院武汉文献情报中心一三五择优项目—“面向研究所需求的知识产权分析解决方案”(项目编号：Y8KZ391006)；CDM项目“CCUS关键技术装备清单与知识产权研究”课题(编号: 2014075)。 |
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| 摘 要： | 技术间的相互影响、相互依存的关系推动着技术领域的发展和演变,开展专利技术交叉影响的探讨十分必要。目前,已有学者开展技术直接影响的研究,但技术间接影响的研究还较少,也较少考虑单个技术在技术体系中的关键程度和整体影响。本文提出一种基于DEMATEL模型的技术影响关系研究方法,可以识别技术间的直接影响关系和间接影响关系,还可以展示单个技术在技术体系中的位置和作用,从而全面了解专利技术间的交叉影响和内部结构。该方法有助于发现大量专利文献数据中有价值的技术模式或规则,理清技术的中心位置和相互影响,也有助于研发机构制定具有针对性的技术研发策略。基于地质建模专利的实证研究,证明了该方法在技术评估中的可行性和有效性。
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| 关 键 词： | 专利分析 交叉影响分析 DEMATEL模型 科技创新 |
| 收稿时间： | 2020/2/18 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2020/3/9 0:00:00 |
Technology Impact Relationship Analysis Method Based on DEMATEL Patent Model |
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| Abstract: | The mutual influence and interdependence of technology promotes the development and evolution of the technology field, and it is necessary to carry out the discussion of the cross-impact of patent technology. At present, some scholars have studied the direct impact of patented technology, but the indirect impact is still less, and the critical degree and overall impact of individual technologies in the technical system are not considered. This paper proposes a research method of technology impact relationship based on the DEMATEL model, which can identify direct and indirect impact relationships between technologies, and can also show the position and role of a single technology in the technology system, so as to fully understand the cross-effects between patented technologies. This method is helpful for discovering valuable technology models or rules in a large number of patent literature data, clarifying the central position and interaction of technologies, and to help research institutions or researchers to develop targeted technology development strategies. The empirical research based on geological modeling patents proves the feasibility and effectiveness of this method in technical evaluation. |
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| Keywords: | patent analysis cross-impact analysis DEMATEL model cross-impact analysis technological innovation |
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