| 美国专利商标局10个高被引专利的计量分析 |
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| 引用本文： | 杨中楷,梁永霞,刘则渊.美国专利商标局10个高被引专利的计量分析[J].科学学与科学技术管理,2008,29(11). |
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| 作者姓名： | 杨中楷 梁永霞 刘则渊 |
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| 作者单位： | 大连理工大学WISELAB实验室,辽宁,大连,116085 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金
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重大国际合作项目
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高等学校博士学科点专项科研项目
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| 摘 要： | 利用专利计量方法和软件,对美国专利商标局所授予的专利进行计量分析。遴选出10个被引用次数最多的高被引专利,分别从这10个专利的自然状况、国家和地区分布、引用频次随时间的分布规律、共被引网络等几个层面进行深入阐述,归纳了高被引专利的相关发生发展规律。通过对相关技术产生与应用的案例分析,对高被引专利的经济社会背景进行更加深入的挖掘。
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| 关 键 词： | 美国专利商标局 高被引专利 专利计量 |
Top Ten Highly Patents in USPTO |
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| YANG Zhongkai,LIANG Yongxia,LIU Zeyuan.Top Ten Highly Patents in USPTO[J].Science of Science and Management of S.& T.,2008,29(11). |
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| Authors: | YANG Zhongkai LIANG Yongxia LIU Zeyuan |
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| Abstract: | This article draws a profile of the top ten highly cited patens in USPTO. After a complex analysis, this article shows main character about the ten patents, includes: basic status; geography distribution; time distribution; cocitation network, etc. At last, this article concludes the social and economic laws behind the top ten patents. |
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| Keywords: | USPTO highly cited patents patentometrics |
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