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| CMOS图像传感器中A／D转换器的可测性设计 | |
| 引用本文： | 裴志军,曹继华.CMOS图像传感器中A／D转换器的可测性设计[J].天津职业技术师范学院学报,2004,14(3):13-16. |
| 作者姓名： | 裴志军 曹继华 |
| 作者单位： | 天津工程师范学院电子工程系，天津300222 |
| 摘 要： | 模拟或混合集成电路设计过程早期，应充分考虑电路的可测性。CMOS图像传感器系统集成A／D转换器设计中，每级1.5位结构流水线A／D转换器适合于高分辨率、高速应用，同时具有良好的可测性。另外，位串行A／D转换器结构也具有较好的可测性，可应用于CMOS图像传感器系统。 |
| 关 键 词： | CMOS图像传感器 A／D转换器 可测性设计 |
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