| CMOS图像传感器在光栅传感器中的应用探讨 |
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| 引用本文： | 石磊,吴武臣.CMOS图像传感器在光栅传感器中的应用探讨[J].安阳工学院学报,2007(1):28-31. |
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| 作者姓名： | 石磊 吴武臣 |
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| 作者单位： | 北京工业大学,集成电路与系统集成实验室,北京,100022;安阳工学院,电子信息与电气工程系,河南,安阳,455000;北京工业大学,集成电路与系统集成实验室,北京,100022 |
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| 摘 要： | 目前在科技研究,工业生产等各行业中,对于位移角度的高精度测量都是不可或缺的。利用光栅传感器完成测量是目前的主要方法。光栅传感器利用光电转换的原理将位移、角度等几何量转换为电信号,该信号经过整形、细分后输出给后级电路完成对信号的处理,最后得到位移、角度的大小方向。本文在分析光栅传感器工作原理的基础上,提出借助CMOS图像传感器代替传统的硅光电池检测莫尔条纹,完成信号的细分,实现对位移角度的高精度测量。
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| 关 键 词： | CMOS图像传感器 光栅传感器 细分 测量 |
| 文章编号： | 1673-2928（2007）01-0028-04 |
| 收稿时间： | 2006-12-26 |
| 修稿时间： | 2006年12月26日 |
Discussion about Application of CMOS Image Sensors in Grating Sensors |
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| Shi Lei,WU Wuchen.Discussion about Application of CMOS Image Sensors in Grating Sensors[J].Journal of Anyang Institute of Technology,2007(1):28-31. |
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| Authors: | Shi Lei WU Wuchen |
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| Abstract: | The precision measurement of displacement and angle is necessary in scientific research and industry. At present, the main way is by grating sensors. The Geometries of displacement and angle are converted to electric signal by grating sensors through photo-electro conversion. This signal is sent to circuit after shaping and subdivision, the quantity and direction of displacement and angle are acquired at last. Based on the analysis of working principle of grating sensor, this paper gives a new method to detect displacement and angle with high accuracy. It uses CMOS image sensor instead of traditional silicon photocell to detect Moire fringe and subdivide signal. |
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| Keywords: | CMOS Image Sensors grating sensors subdivision measurement |
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