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| USING STRUCTURE INFORMATION TO GUIDE DIAGNOSIS | |
| 作者姓名： | 林孔元 杨正瓴 |
| 作者单位： | Dept. of Electrical Engineering and Automation，Tianjin University |
| 摘 要： | 为了快速得到“模型诊断”中的最优测量点，建立了系统的二值模型；它只包含候选故障元，且它们的因果关系与原系统保持一致，然后，利用结构信息区分候选诊断．这种方法可看成是期望熵法的极值结构特征提取．直接适用于连续或离散系统．这样可以采用“对分法”在Ｏ（Ｎ２）时间内给出一个优化测量点． |
| 关 键 词： | 模型诊断，测量点，对分法 |
USING STRUCTURE INFORMATION TO GUIDE DIAGNOSIS |
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| Abstract: | |
| Keywords: | model based diagnosis measurement half split |
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