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烧结温度对Ni0.8Zn0.2Fe2O4铁氧体低频低磁通损耗的影响
引用本文:胡晶晶,李俊,冯双久.烧结温度对Ni0.8Zn0.2Fe2O4铁氧体低频低磁通损耗的影响[J].淮南师范学院学报,2012,14(3):24-26.
作者姓名:胡晶晶  李俊  冯双久
作者单位:1. 淮南联合大学,安徽淮南,232038
2. 安徽大学物理与材料科学学院,安徽合肥,230039
基金项目:淮南联合大学重点科研项目,安徽大学创新团队项目
摘    要:NixZn1-xFe2O4铁氧体具有高频中低损耗的特点,通过提高Ni含量至0.8降低起始磁导率,增加截止频率,应用于更高频率。通过固相反应法合成了Ni0.8Zn0.2Fe2O4,并测定了铁氧体样品在低频低磁通密度下的损耗特性,讨论了烧结温度对损耗的影响。

关 键 词:NiZn铁氧体  磁滞损耗  涡流损耗
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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