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相似文献
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1.
《发明与革新》2014,(3):43-43
成果简介:本项目致力于开发应用于小型化LED闪光灯模块的LEDSiP设计及封装平台技术。包括通过微机电系统及与晶圆级工艺的整合,实现小型化LED系统封装的应用,例如相机手机LED词·光灯模块。  相似文献   

2.
《中国科技信息》2006,(9):32-32
三星电子(Samsung Electronics)日前宣布,它已开发出一种芯片三维封装技术,基于其专利晶圆级堆叠工艺(WSP)。三星的WSP技术采用“Si贯通电极”(through silicon via)互联,实现了用于手机和其它产品的一系列小型混合式封装。[编者按]  相似文献   

3.
《科技风》2020,(23)
目前BGA器件越来越广泛地应用在电子产品上。电子产品正朝向轻量化、便携化等方向发展,对BGA技术进行研究升级也迫在眉睫。BGA封装因为其顺应目前电子产品轻量化、便携化的发展趋势,被越来越多的企业应用到焊接工艺中。元器件是否可靠的关键在于焊点的剪切性能。文章通过研究BGA焊点剪切性能和界面结构,提出几点建议。  相似文献   

4.
整流桥是一种常用的整流元器件,它利用二极管具有单向导电的特性,将交流电压整流为直流电压以供给电路使用的元器件,其广泛用于LED照明、大中小型计算机、微机外设、程控交换机、广播电视通讯、工控仪器仪表行业的电源整流;随着各行业整机的小型化、使用寿命延长化、低功耗节能等,相对应对整流元器件提出了小型化、扁平化、耐高压反偏、微功耗等要求。本文以ABS110肖特基整流桥为例介绍了其超薄封装思路、封装工艺探讨、封装原材料的运用、封装试投产及出现的问题的解决等,为同行业工程师起到一定的参考借鉴意义。  相似文献   

5.
《科技风》2020,(24)
随着当今社会现代化、科技化的发展,各类电子设备的功能性越发强大,与此同时针对电子设备的自身的要求在增加,便携化、小型化与网络化已经成为当今电子设备的主流发展方向。BGA(Ball Grid Array)封装元器件在电子模块中的占比已逐渐提高,其完美的适应了电子设备便携化、小型化、高性能网络化的发展方向,因此被广泛使用,同时对于BGA焊点可靠性工艺的研究也在不断的进步。本文将针对BGA焊点可靠性工艺研究做出分析与归纳,在此基础上简要的预测BGA焊点可靠性的未来发展方向。  相似文献   

6.
高技术芯片的研究和开发长期以来一直是世界各国竞争的主要对象之一。高技术芯片是计算机产业的核心技术.也是其他高科技电子产品中必不可吵的极为重要的电子元器件,直接关系到其他高精尖科研产品和技术的发晨前景,其性能和质量也将直接影响电脑和电子产品的性能和其他要素。高技术芯片的小型化、低能耗、高精确牲、高可靠性以及新型制造技术是高技术芯片发展的关键技术,掌握和开发高技术芯  相似文献   

7.
IC制造装备是半导体工艺制程的重要载体。芯片生产过程中,用晶圆传输系统来实现晶圆在不同工位之间快速、高效、可靠的搬运。随着晶圆生产的产量和尺寸的不断增加,对晶圆传输结构的速度、精度要求也日益提高。本文主要介绍R-θ型晶圆传输机械手的典型结构、使用条件、特点及注意事项。为晶圆输送系统的设计及选型提供一些参考依据。  相似文献   

8.
《科技风》2017,(24)
随着半导体芯片封装技术的发展,倒装芯片封装技术,其杰出的电气和热性能,高I/O引脚数,以及其封装集成较高的优势,使其在芯片封装行业中得到了快速的发展。芯片的高密度引脚封装也其对封装可靠性也提出了更高的要求,而在FlipChip工艺过程中基板上的污染物和氧化物是导致封装中基板与芯片Bump键合失效的主要因素。为使芯片与基板能达到有效的键合,在Bond之前将基板进行plasma清洗,以提高其键合的可靠性。通过介绍plasma清洗原理、过程,以及水滴角,推力测试等实验,论证了在Flip-Chip Bond之前对基板进行plasma清洗能有效的提高产品键合的可靠性。  相似文献   

9.
王春杰 《科技风》2014,(3):55-57
本文针对基于Proteus电路设计仿真与PCB设计中的关键技术进行了研究。通过实例论述在ISIS界面进行电路设计与仿真,使方案改动具有灵活性;在ARES界面进行PCB设计,增强电子产品的抗干扰能力和可靠性;存储自制元件封装与仿真图,使电路设计具有高效性,为今后开发制作电子产品开辟了更广阔的空间。  相似文献   

10.
张登军 《大众科技》2013,(4):34-35,117
随着便携式电子产品市场的高速发展,串口存储器被广泛应用于手机、数码相机、硬盘和超级笔记本等设备,其高速接口技术是SPI存储器芯片设计的关键技术,文章介绍了高速串口存储器芯片的几种标准接口模式,分析了实现SPI逻辑功能的设计思路,并给出了SPI接口的仿真结果,结果表明设计完全满足SPI协议串行数据传输的要求,性能可靠的高速存储器接口电路。  相似文献   

11.
1958年第一块单块式集成电路问世以来,电子产品突飞猛进地向微小型化发展,这不仅使体积大为缩小,重量减轻,并使产品的可靠性迅速提高,成本大为降低;同时产品的运行速度也越来越高,功能更趋多样化。这种向微小型化方向发展的潜力还很大。估计90年代微电子技术的发展,微小型化仍然是一个主要方向。随着元器件的微小型化,器件的开关速度将达到微微秒量级。电路的集成度将超过每片1000万个元件以上。在这种情况下,把整个电子系统集成在一起的系统集成技术就显得越来越重要。系统集成除了要求每个元器件的尺寸继续缩小外,还要求把各种不同功能的元器件都集成在一块集成电路上,因此要解决各种功能元器件  相似文献   

12.
为了制造可靠性高的二极管,对肖特基势垒金属制造尤为关键。本文主要分析了肖特基表面不同金属和金属硅化物的肖特基势垒。通过多次试验得出金属层的淀积技术方法及对刻蚀金属方法,对此进行了各种不同比例的金属淀积工艺试验及对不同比例的刻蚀液体进行了验证。  相似文献   

13.
随着微电子技术的发展和应用范围日益扩大,对微电子封装要求越来越高,其封装质量严重影响微电路的性能和可靠性,其成本约占器件的1/3,因此,封装的性能和成本对电子产品和竞争力影响很大。MCM封装是多芯片组件的重要组成部分,本文着重介绍了构成MCM封装技术的材料选择、结构类型以及MCM封装的密封技术和冷却技术及微电子封装发展趋势。  相似文献   

14.
李鹏  潘开林  赵鲁燕 《科技通报》2021,37(10):83-86,94
柔性凸点技术是解决当前晶圆级封装柔性适应性的关键技术之一.对比了传统CWLP柔性凸点技术的基础上给出了新型隐埋空气隙柔性凸点结构,分析了采用隐埋空气隙的柔性凸点结构作用柔性适应性原理及特点.对比分析各类CWLP器件柔性凸点制备技术基础上,结合硅微加工工艺探讨并给出了隐埋空气隙的柔性凸点的完整结构制备工艺流程.结果表明,基于硅微加工技术制备隐埋于重分布铜互连线下方空气隙的柔性凸点结构制备工艺合理,应用所给出的制备工艺制造完成了 CWLP器件隐埋空气隙柔性凸点结构.  相似文献   

15.
李鹏  潘开林  赵鲁燕 《科技通报》2021,37(10):83-86,94
柔性凸点技术是解决当前晶圆级封装柔性适应性的关键技术之一.对比了传统CWLP柔性凸点技术的基础上给出了新型隐埋空气隙柔性凸点结构,分析了采用隐埋空气隙的柔性凸点结构作用柔性适应性原理及特点.对比分析各类CWLP器件柔性凸点制备技术基础上,结合硅微加工工艺探讨并给出了隐埋空气隙的柔性凸点的完整结构制备工艺流程.结果表明,基于硅微加工技术制备隐埋于重分布铜互连线下方空气隙的柔性凸点结构制备工艺合理,应用所给出的制备工艺制造完成了 CWLP器件隐埋空气隙柔性凸点结构.  相似文献   

16.
<正>近几年,消费者对手提消费电子产品的尺寸要求越来越小,这就导致对半导体元器件的生产和封装需要考虑小的产品尺寸,需要研发越来越小的封装产品。和WLCSP产品封装相比较,QFN产品是具有更低成本和在电路板上具有更高的可靠性的特点。即使是产品的尺寸发展到和芯片的尺寸大小想接近,这些是让QFN越来越成为主流的半导体封装形式的主要原因。  相似文献   

17.
纳米级工艺下SOC芯片的物理设计面临巨大挑战,传统的深亚微米物理设计方案耗时长,难以实现设计的快速收敛,通过分析纳米级工艺下SOC芯片的物理设计流程,以一个多媒体SOC芯片设计为例,论述了纳米级工艺的中低功耗设计与分析、统计静态时序分析、信号完整性分析及可制造性设计等问题的解决方法,并在90纳米工艺下实现了芯片的物理设计版图。  相似文献   

18.
现有扫描微镜封装结构较为复杂,电路板结构复杂,装配过程繁琐,且两块磁铁距离芯片位置较远,磁铁个体差异可能会造成磁力不够。封装结构固定方式不够稳定,一致性差,现阶段的封装结构仅能满足于核心部件微镜芯片的测试工作,无法实现未来扫描微镜整机的产业化需求。针对这个问题,设计出一个新的封装结构,在保证芯片安装和摆动角同时,精简了优化了PCB板的结构,并通过PCB板来控制并缩小磁铁之间的间距,提高了芯片所在的磁场强度;通过新固定的方式简化了扫描微镜的安装工艺,提高了整机的稳定性,能够满足未来该产品工业化的需要。  相似文献   

19.
随着科技的发展,我国电子技术的发展速度越来越快,集成电路技术越加完善。同时电子产品相应的制作工艺也不断发展,我国电子产品未来的发展方向为:产品更加环保,能耗越来越低,携带更加便捷,产品质量有保证等。本文针对性对电子技术在现代电子系统当中的应用与发展开展深入研究与分析,选择两款不同的低功耗电源芯片开展全面分析,为电源技术在未来生产、生活中的应用提供一定帮助。  相似文献   

20.
本文通过产品结构设计、工艺设计及可靠性设计,保证了产品的耗散功率PD和电流容量IC,且减少了芯片面积;在保证高的VCBO前提下,减少漂移区电阻率和厚度,选取合适的基区宽度,以减小饱和压降VCE(sat);控制封装热阻,提高产品的热稳定性。  相似文献   

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