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相似文献
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1.
《实验技术与管理》2020,(1):118-121
研究电感特性随磁场变化的响应机制具有很重要的应用价值及研究意义。该文主要基于原有矢量网络分析仪和探针台,对薄膜电感测试系统增加磁场测试的功能,并编写自动化测试软件,从而测试在不同磁场下制备在YIG片子上的薄膜电感的高频性能随磁场的响应特性。  相似文献   

2.
采用静电层层自组装方法在叉指电极上制备石墨烯/氧化铜复合薄膜器件,结合LabVIEW与单片机系统制作了一种新型湿度检测平台并进行相关测试。测试结果表明,所制备的石墨烯/氧化铜薄膜器件及其测试平台对湿度响应特性良好,体现了纳米技术在工程实际的新应用。该检测平台制作成本低、易操作,为传感器检测技术在实际应用方面提供了新的借鉴,同时促进了学生对湿度检测实验的深度理解,有效提升了学生学习的积极性和教学效果。  相似文献   

3.
为了实现变温环境下薄膜太阳电池电学性能的自动测试,提出了基于方形四探针法测试原理,采用由工业计算机(IPC)和Keithley 2401数字源表、智能温控仪(SRS13A,SRS14A)组成的主从式控制系统,实现薄膜太阳电池器件的电学性能测试。通过RS-485总线完成智能温控仪与上位机间数据通信,达到对测试环境和样品温度的智能控制。采用GPIB总线实现上位机与Keithly 2401数字源表间的信息交换,获取待测样品的电压、电流、电阻等参数值。基于Lab VIEW开发环境编写的上位机软件被用于完成数据处理,T—R,T—I—U特征曲线的绘制和显示。为了验证该测试系统的性能,对化合物半导体(Zn Te:Cu)薄膜和Cd Te薄膜太阳电池器件的电学性能进行了测试。结果表明,该系统能够完成变温环境下薄膜太阳电池器件电学性能的测试,并且该系统运行可靠、操作简便,能够满足实验室教学和科研的需要。  相似文献   

4.
采用直流磁控溅射技术,在Si表面沉积了Pd掺杂MoS_2(Pd:MoS_2)薄膜,形成了Pd:MoS_2/Si异质薄膜太阳能电池器件,并综合利用拉曼光谱、紫外-可见光谱、紫外光电子能谱和伏安曲线测量等技术分析了Pd掺杂浓度(x%)对MoS_2薄膜微结构及Pd:MoS_2/Si异质薄膜器件光伏性能的影响。拉曼光谱结果表明,Pd掺杂明显改变了MoS_2薄膜中A_(1g) 晶格振动,而几乎不影响E_(2g)~1晶格振动。在模拟太阳光照射条件下,伏安性能测试结果显示:随着Pd掺杂浓度的增加,Pd:MoS_2/Si异质薄膜器件的光伏性能显著增强;当x=1时,器件表现出最佳的光伏效果,转化效率达到4.6%;继续增加Pd掺杂浓度,器件的光伏性能则逐渐减弱。进一步通过紫外-可见光光谱和紫外光电子能谱分析,构建了Pd:MoS_2/Si界面能带结构,阐释了Pd掺杂对器件光伏性能的影响机制。  相似文献   

5.
采用层层自组装技术在叉指电极上制备碳纳米管-氧化锌薄膜器件,结合可编程逻辑控制器(PLC)与上位机组态王监控软件制作了一种新型气体检测平台。实验结果表明,所制备的氧化锌修饰碳纳米管薄膜器件及其测试平台对甲烷气敏响应特性良好,而且该检测平台制作成本低、易操作,为传感器检测技术在实际应用方面提供了新的借鉴,也有利于提升学生学习的积极性和教学效果。  相似文献   

6.
通过测试和仿真结果表明:经过优化后的螺旋电感可以用作Bias-Tee电路,其带宽可达8Ghz,且由于体积非常小,能够放置在光电器件的封装内,对光电模块的小型化十分有利。  相似文献   

7.
多晶硅薄膜材料与器件研究进展   总被引:1,自引:0,他引:1  
多晶硅薄膜是当前在能源科学和信息技术领域中广泛使用的功能材料,综述了多晶硅薄膜材料及其器件的特点、制备方法及研究进展.  相似文献   

8.
开关变换器利用耦合电感能够减小相电流和输出电压纹波值,负载突变响应更快速,减少输出去耦电容。这些优点使耦合电感成为计算机工业领域中一种非常有吸引力的技术。本文阐述了分析采用耦合电感的开关变换器的一种新方法,并提出了一种新颖的N-线圈耦合电感的规范电路模型。利用这种模型,变换器中的耦合电感线圈电流波形和纹波与非耦合电感的变换器一样容易被确定。论文也针对进一步减小变流器磁性器件的体积、重量和损耗问题研究了集成磁技术,即把开关变流器中所有主要磁性器件从结构上集中在一起,用一个磁性器件来实现,经过优化设计,磁芯当中的磁通变化量减小,从而降低磁芯损耗,减小磁芯体积。  相似文献   

9.
电感作为电路的三大基础性元件之一,其片式化、薄膜化发展十分重要。常用的平面螺旋电感有方形的、六边形的、八边形的、还有圆形的。介绍了方形平面螺旋电感的物理参数的计算及仿真,对理论计算值和试验测量值进行比较,从而验证该种计算方法的可行性,并且分析了产生误差的原因。  相似文献   

10.
利用磁控溅射法制备了铁钴合金薄膜,并采用电感耦合等离子体发射光谱仪、多晶X射线衍射仪和场发射扫描电子显微镜对沉积薄膜的成分、晶体结构和微观形貌进行了测试和分析。针对DWL66FS型激光直写仪自带定位工具定位销使用时的缺点,设计了"L"形样品定位工具L夹尺。利用高倍光学显微镜对比分析研究了两种定位技术在激光直写多层光刻铁钴合金薄膜时定位的准确度。结果发现,使用L夹尺对多层光刻样品定位的准确度明显优于仪器自带的定位销。  相似文献   

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