SoC中存储器测试技术的研究     

柴华  谈恩民  江志强 《大众科技》2012,14(3):33-35,39

随着集成电路规模的不断扩大,基于IP核复用的SoC设计技术被广泛应用,但是由于IP核的来源不同,使得SoC的测试变得越来越困难。IEEE Std 1500给IP核提供商与用户之间提供了标准的测试接口,简化核测试信息的复用。文章基于此标准设计了SoC中存储器的Wrapper测试壳结构和BIST控制器,以DRAM和SRAM为测试对象进行验证,结果表明了在不同测试指令和故障模式下,测试壳和控制器的有效性。  相似文献   

基于802.16e的同步技术研究     

袁江楠  谈恩民 《大众科技》2012,14(4):75-77

在802.16e系统中,接收端对同步精度有很高的要求,同步误差会导致系统性能的急剧下降。文章介绍了OFDMA的基本概念和体系结构,分析了同步误差对系统性能的影响,并对系统的同步估计算法进行了分析与研究。  相似文献