排序方式： 共有33条查询结果，搜索用时 15 毫秒
1.
《佳木斯教育学院学报》2017,(1)
采用能量极小原理研究了含有立方各向异性的磁性薄膜中的磁化反转过程.存在一个临界磁化角度使得磁化强度将从一次跳跃过渡到两次跳跃,并使得磁滞回线表现出不同的形状。 相似文献
2.
采用单辊熔体急冷法制备了非晶Fe39.4-xCo40Si9B9Nb2.6Cux合金薄带,在不同温度退火后得到双相纳米晶合金。研究了纳米晶合金的静态磁性随退火温度的变化,结果表明490℃退火后可以得到最优的静态性能;研究了Cu含量对合金性能的影响,结果表明随Cu含量的增加,纳米晶合金晶粒尺寸得到有效细化,使得其静态磁性更加优良。 相似文献
3.
用FD-BH-1型测量仪测量了磁性材料的起始磁化曲线和磁滞回线.利用Origin软件多层绘图功能将所测得的数据绘制起始磁化和磁滞回线图形,然后利用Origin软件高阶多项式拟和功能拟和了起始磁化曲线及分两段拟合磁滞回线,得出起始磁化曲线和两段磁滞回线的具体函数表达式,最后利用软件的数据分析中的积分功能计算出磁滞损耗密度... 相似文献
4.
为了实现在实验室测量磁性膜、条带或丝等多种形态磁性材料的磁滞回线,设计并研制了磁滞回线测量仪。该测量仪的磁感应强度探测器采用双线圈反相连接的设计,磁性材料的样品可以放于任一个探测线圈中,样品的更换方便、快捷。该测量仪通过调试后,对钴基非晶条带和铁基纳米晶条带等多个样品测量出了分辨率高且图形清晰的磁滞回线。 相似文献
5.
采用脉冲激光沉积方法,以烧结的Fe3O4为靶材,在STO（100）基底上制备了Fe3O4（100）薄膜。XRD和AFM显示薄膜为纯相外延单晶薄膜、表面较平整。对薄膜的磁电阻进行测量,薄膜为负磁电阻,且在Verwey转变温度（约120K）时磁电阻最大。霍尔效应测量得到薄膜中栽流子浓度随着温度的降低而减小,In（n）与I／T基本呈线性关系,符合半导体热激活模型,迁移率随着温度的降低而减小,说明在薄膜内存在大量电离杂质中心。薄膜磁滞回线中较高的饱和磁化场。说明薄膜中APBs密度较低。 相似文献
6.
介绍用数字式毫特仪测量铁磁材料的磁滞回线与磁化曲线的原理和方法，与传统方法相比该新方法测量磁滞回线简便实用，准确度较高，效果很好。 相似文献
7.
8.
本文论述了磁性材料磁滞回线测量的基本原理,采用数字示波器光标的实时跟踪功能测量了磁滞回线上的42个点的坐标值,利用数字电流表和电压表记录B和H的定标值,然后采用origin软件对所测的数据进行线性拟合、绘制磁滞回线的图形。实践证明利用数学软件origin是优于传统的手工计算与作图的数据处理方法,且处理结果完全满足实验数据处理要求,适合在实验教学中推广。 相似文献
9.
10.
介绍了基于B-H磁滞回线,利用BP人工神经网络建立的逆向B-H模型。根据建立的这个模型,利用simulink对这个模型进行仿真,通过输入期望的磁感强度信号,得到需要的磁场强度信号。 相似文献